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SWT-NEOⅡ/NEOⅢ
雙用型薄膜測厚儀







產品型號:SWT-NEOⅡ/NEOⅢ
更新時間:2025-10-21
廠商性質:代理商
訪問量:52
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可根據測量目的選擇連接探頭。
操作過程顯示在液晶屏上。
大容量測量值內存(NEO II:20,000點,NEO III:40,000點)。
通過注冊校準曲線輕松回憶測量結果
內置上下限設定及統計計算功能。
數據可以通過 USB 連接傳輸到計算機。
內置特定低功耗無線輸出(NEO-III)。
傾斜支架
噴漆/內襯/電鍍
絕緣涂層,例如陽極氧化鋁
高性能型號,配備探頭兼容性、內存、統計計算、數據傳輸等功能。
* 專用探頭需另購。(探頭不兼容 SWT-9000 系列及更早型號。)